Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение : [монография]
Р. Андерхальт и др., под ред. Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга, пер. с англ. С. А. Иванова и К. И. Домкина, под ред. Т. П. КаминскойИздательство:
Бином. Лаб. знаний
Язык:
russian
Страницы:
582
ISBN 10:
5996311100
ISBN 13:
9785996311101
Файл:
DJVU, 11.88 MB
IPFS:
,
russian0